Flying-Probe- und ICT-Systeme OPERA-Plattform auf einheitlicher Hard- und Softwarebasis

Von Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter 2 min Lesedauer

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Anlässlich seines 40-jährigen Bestehens vollzieht Seica mit der OPERA-Serie einen Generationswechsel. Hinter der „Open Platform ERA“ verbirgt sich eine konvergente Systemarchitektur, die Flying-Probe, ICT und Funktionstest auf einer einheitlichen Hard- und Softwarebasis vereint.

Die bewährte Pilot V8 basiert nun auf der neuen, offenen OPERA-Plattformarchitektur von Seica.(Bild:  Seica)
Die bewährte Pilot V8 basiert nun auf der neuen, offenen OPERA-Plattformarchitektur von Seica.
(Bild: Seica)

In der modernen Elektronikfertigung stehen Testingenieure oft vor der Herausforderung fragmentierter Systemlandschaften. Seica adressiert dies mit der OPERA-Serie durch Standardisierung. Dabei wird die bewährte Hardware, wie der bekannte Flying Prober Pilot V8, technologisch auf das neue OPERA-Fundament gehoben.

64-Bit-Software und IIoT-Integration

Die bewährte Pilot V8 basiert nun auf der neuen, offenen OPERA-Plattformarchitektur von Seica.(Bild:  Seica)
Die bewährte Pilot V8 basiert nun auf der neuen, offenen OPERA-Plattformarchitektur von Seica.
(Bild: Seica)

Das technische Herzstück der neuen Serie ist die Software-Generation VIVA Next. Im Gegensatz zu älteren, oft limitierten Umgebungen basiert VIVA Next auf einer vollständigen 64-Bit-Architektur. Damit lassen sich nicht nur große Datenmengen schneller verarbeiten, die beispielsweise bei hochkomplexen Boards mit tausenden Testpunkten anfallen. Die Software bietet auch eine native Integration in moderne IT-Infrastrukturen.

Dabei ist die Software für die Anforderungen von Industrie 4.0 und IIoT ausgelegt. Über standardisierte Protokolle wie MQTT oder OPC-UA können Testdaten in Echtzeit an MES-Systeme (Manufacturing Execution Systems) übertragen werden. Zudem bietet die Plattform Anschluss an Cloud-Systeme für die Fernüberwachung des Systemzustands (Condition Monitoring) und prädiktive Wartungsanalysen.

Gleiche Instrumentierung für alle Systeme

Ein entscheidender Vorteil der Plattform für den Anwender ist die modulare Hardware-Struktur. Seica setzt dabei auf universelle Mess- und Treiberkarten, die systemübergreifend eingesetzt werden:

  • Skalierbarkeit: Die Architektur erlaubt es, Systeme von einer minimalen Instrumentierung bis hin zu komplexen Konfigurationen mit hunderten Kanälen aufzurüsten.
  • Einheitliche Ersatzteilhaltung: Da Flying-Probe-Tester und klassische In-Circuit-Tester (ICT) nun auf identische Kernkomponenten zugreifen, reduziert sich die Lagerhaltung für kritische Bauteile drastisch.
  • Schnellere Applikationsentwicklung: Testprogramme, die auf einem Systemtyp entwickelt wurden, lassen sich durch die gemeinsame Softwarebasis wesentlich einfacher auf andere Systemkonfigurationen portieren.

Fokus auf High-Speed und High-Density

Die OPERA-Serie wurde speziell für den Einsatz von hochintegrierter Baugruppen (z. B. für 5G, Automotive-Radar oder HPC-Module) entwickelt. Die neuen Flying-Probe-Systeme innerhalb der Serie verfügen über eine verbesserte Mechanik sowie präzisere Sensorik, um auch kleine Testpads sicher zu kontaktieren, ohne dabei mechanische Spuren zu hinterlassen. Die Integration von optischen Inspektionsmodulen (AOI) direkt in den Testablauf sorgt zudem für eine höhere Testabdeckung bei gleichzeitig reduziertem Footprint in der Linie.

Strategischer Hintergrund

Barbara Duvall, CEO von Seica, betont die langfristige Ausrichtung: „OPERA ist keine isolierte Produktvorstellung, sondern ein Ökosystem. Unser Ziel war es, eine Umgebung zu schaffen, die offen für Drittanbieter-Tools ist und gleichzeitig die Investitionssicherheit über Jahrzehnte garantiert.“ Antonio Grassino, Mitbegründer von Seica, ergänzt, dass diese technologische Kontinuität entscheidend sei, um die steigende Komplexität in der Elektronikfertigung beherrschbar zu machen.

Mit der OPERA-Serie bewegt sich Seica weg von der spezialisierten Einzelmaschine hin zu einer universellen Test-Infrastruktur. Für Elektronikfertiger bedeutet das einen geringeren Schulungsaufwand für das Personal, nahtlose Datenflüsse zwischen den Testphasen und eine zukunftssichere Plattform, die mit neuen Anforderungen (z.B. höheren Frequenzen oder neuen Kommunikationsprotokollen) mitwachsen kann. (heh)

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