Spektrale Charakterisierung Halbleiter-Laserdioden, Mikro-LEDs und AR/VR-Displays untersuchen

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Hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit einer 2D-Farbmesskamera vermessen Halbleiter-Laserdioden (VCSELs, Mikro-LEDs und AR/VR-Displays. Alle Systeme sind für Labor und Produktionsanwendungen mit Fokus auf schnellere Taktzeiten erhältlich.

Halbleiter-Laserdioden, Mikro-LEDs und AR/VR-Displays mit hochauflösenden Spektralradiometer messtechnisch untersuchen.
Halbleiter-Laserdioden, Mikro-LEDs und AR/VR-Displays mit hochauflösenden Spektralradiometer messtechnisch untersuchen.
(Bild: Instrument Systems)

Halbleiter-Laserdioden, sogenannte VCSELs, Mikro-LEDs sowie AR/VR-Displays werden mit spezielle Messtechnik spektral charakterisiert. Dazu bieten Unternehmen wie Instrument Systems hochauflösende Spektralradiometer in Kombination mit Kamerasystemen an. Für die Charakterisierung steht die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop in unterschiedlichen Modellvarianten zur Verfügung. Mit ihr lassen sich μLED-Arrays prüfen. Die LumiTop AR/VR mit Periskop-Objektiv ermöglicht parallele Zwei-Augenmessungen für AR/VR-Headsets auch unter räumlich beengten Bedingungen.

Dank des One-Shot-Verfahrens misst die Infrarotkamera VTC simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines VCSEL-Arrays und liefert notwendige Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu senken. Alle Systeme sind sowohl für Labor, aber auch für Produktionsanwendungen mit Fokus auf schnellere Taktzeiten erhältlich.

Optische Tests für AR/VR-Headsets

Für ein perfektes Anwendererlebnis mit AR/VR-Headsets sind in der Produktion umfangreiche, schnelle und hochpräzise optische Tests notwendig. Hierzu bietet Instrument Systems die speziell entwickelte 2D-Farbmesskamera LumiTop AR/VR. Das AR/VR-Objektiv der Kamera bildet das menschliche Auge möglichst naturgetreu nach und misst Farbe und Leuchtdichte so, wie es das Auge sieht. Das Periskop-Design ermöglicht synchronisierte Zwei-Augen-Messungen. Und das bewährte LumiTop-Prinzip garantiert rückführbare und hochgenaue Messungen.

Polarisationskontrolliertes VCSEL-Testing

Die kürzlich prämierte Infrarotkamera VTC 4000 eignet sich zur Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern wie VCSEL oder Lasern. Industrieübliche VCSEL emittieren in mehr als einem Polarisationszustand mit jeweils unterschiedlichen Polarisationswinkeln und erschweren so ihre fehlerfreie Vermessung. Dank des One-Shot-Verfahrens misst die Infrarotkamera simultan die räumliche Polarisation einzelner Emitter eines Arrays und liefert Informationen, um die Polarisationsabhängigkeit des Messaufbaus zu reduzieren.

Dieses Vorgehen minimiert das Fehlerbudget des VCSEL-Testsystems und liefert präzise Messwerte für die Augensicherheit der Laserquelle. Hersteller können die volle Leistungseffizienz von VCSEL/Lasern ausschöpfen und gleichzeitig einen sicheren Betrieb gewährleisten.

Messsystem für μLED-Tests umgeht Erwärmungseffekt

Die spektral erweiterte 2D-Farbmesskamera LumiTop 4000 prüft μLED-Arrays in AFS-Anwendungen. Die Kamera bietet eine Auflösung von 12 MPixel und sie misst die Einzel-LEDs des Arrays simultan. Dank ihrer hohen Messgeschwindigkeit umgeht die Kamera die Temperaturabhängigkeit von Hochleistungs-LEDs. In Kombination mit einem High-End-Spektralradiometer CAS 140D liefert das auf Leuchtdichte (in cd/m²) kalibrierte System hochgenaue Messwerte. Dadurch ist es insbesondere für die Qualitätskontrolle von Gleichförmigkeit, Helligkeit und Farbe bei μLED-Arrays geeignet.

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