MOSFET Datenblätter richtig lesen: Die Schaltparameter (N-Kanal-MOSFET / Markus A. Henning / CC BY-SA 3.0)

MOSFET-Datenblätter richtig lesen: Die Schaltparameter (Teil 5)

Willkommen zum nächsten Beitrag der Serie „MOSFET-Datenblätter richtig lesen“, in der wir versuchen, den Datenblättern von Leistungs-MOSFETs die Unklarheiten zu nehmen. In diesem Beitrag werfen wir einen Blick auf einige weitere Schaltparameter, die man in den Datenblättern von MOSFETs vorfindet. Wir untersuchen, welche Relevanz diese Angaben für die allgemeine Leistungsfähigkeit der Bausteine haben.

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MOSFET-Datenblätter: Wie Sie die Datenblattangaben von MOSFETS richtig interpretieren (N-Kanal.MOSFET / Markus A. Hennig / CC BY-SA 3.0)

MOSFET-Datenblätter richtig lesen: UIS und Avalanche-Festigkeit (Teil 1)

In MOSFET-Datenblättern muss man wissen, wonach man sucht. Während sich die Bedeutung einiger Angaben, beispielsweise Drain-Source-Spannung, Einwiderstand und Gate-Ladung, sofort erschließt, sind andere, etwa Drain-Strom und SOA-Diagramme, mehrdeutig oder nutzlos. In Teil 1 unserer Serie beschäftigen wir uns mit der UIS-Angabe und der Avalanche-Festigkeit.

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Speziell auf die Anforderungen von Wide-Band-Gap-Halbleitern zugeschnitten: Diese HF-Leistungskondensatoren von TDK Electronics. (TDK Electronics)

Optimierte Leistungskondensatoren für Wide-Band-Gap-Halbleiter

In der Leistungselektronik werden Halbleiter auf Silizium-Basis zunehmend von Wide-Band-Gap-Technologien (WBG) auf Basis von GaN und SiC abgelöst. Diese stellen hohe Ansprüche an die passiven Bauelemente – besonders an die Zwischenkreis-Kondensatoren. TDK hat nun Lösungen vorgestellt, mit denen sich die Vorteile der neuen Halbleiter optimal nutzen lassen.

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 (EPC)
Galliumnitrid

Fachbuch Schaltungs-Design

GaN-Theorie und -Anwendungen wie Lidar, DC-DC-Umwandlung und drahtlose Stromversorgung mit Galliumnitrid-FETs und -ICs stehen im Mittelpunkt dieser dritten Auflage von „GaN Transistors for Efficient Power Conversion“ von ECP (Efficient Power Conversion Corporation).

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