Halbleitertest Fraunhofer EMFT und OTH Regensburg bilden Chipdesign-Allianz

Von Kristin Rinortner 2 min Lesedauer

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Das Fraunhofer EMFT will künftig eng mit Prof. Dr.-Ing. Rainer Holmer von der OTH Regensburg auf dem Gebiet Chipdesign zusammenarbeiten. Im Fokus steht der Test von Chips und Systemen.

Post-CMOS-Prozess: Im Rahmen der neuen APECS-Pilotlinie wird ein neu gegründetes Forschungsteam am Fraunhofer EMFT eine ganzheitliche Teststrategie für die Post-Silizium-Verifizierung, Charakterisierung und produktive Prüfung von 2.5/3D heterogen integrierten Systemen entwickeln und umsetzen.(Bild:  Fraunhofer ISIT)
Post-CMOS-Prozess: Im Rahmen der neuen APECS-Pilotlinie wird ein neu gegründetes Forschungsteam am Fraunhofer EMFT eine ganzheitliche Teststrategie für die Post-Silizium-Verifizierung, Charakterisierung und produktive Prüfung von 2.5/3D heterogen integrierten Systemen entwickeln und umsetzen.
(Bild: Fraunhofer ISIT)

Die fortschreitende Miniaturisierung und immer höhere Integrationsdichte von Halbleitern erhöhen die Anforderungen an Qualität und Zuverlässigkeit von Integrierten Schaltungen, insbesondere in sicherheitskritischen Bereichen wie der Automobilindustrie und Medizintechnik. In diesem Kontext ermöglichen automatisierte Testprozesse signifikant reduzierte Testzeiten und gleichzeitig eine erhöhte Testabdeckung. Dies ist besonders relevant in der Serienproduktion, wo Effizienz und Kostensenkung von größter Bedeutung sind.

Technologien und Lösungen für den Halbleitertest

Die Kooperation zwischen dem in München ansässigen Fraunhofer EMFT (Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien) und der OTH (Ostbayrische Technische Hochschule) Regensburg konzentriert sich auf die Entwicklung innovativer Technologien und Lösungen für den Halbleitertest.

Die geplanten Aktivitäten umfassen die parametrische und funktionale Verifikation, Charakterisierung, Qualifikation und den produktiven Test von diskreten Halbleiterbauelementen sowie integrierten Schaltungen und Systemen auf Wafer- und Bausteinebene. Weitere Schwerpunkte sind Design for Testability, Testentwicklung, Testoptimierung (z.B. hinsichtlich Testzeit und Testkosten) und Testautomatisierung.

Prof. Dr. Rainer Holmer (OTH) wird beim Fraunhofer EMFT die Entwicklung innovativer Technologien und Lösungen für den Halbleitertest vorantreiben.  (Bild:   © OTH Regensburg)
Prof. Dr. Rainer Holmer (OTH) wird beim Fraunhofer EMFT die Entwicklung innovativer Technologien und Lösungen für den Halbleitertest vorantreiben.
(Bild: © OTH Regensburg)

Prof. Dr. Rainer Holmer ist ein anerkannter Experte auf dem Gebiet der Testentwicklung mit umfangreicher Erfahrung in der Halbleiterbranche. Er hat in führenden Positionen bei Siemens und Infineon Technologies maßgeblich an der Entwicklung und Optimierung von Halbleiter-Testprogrammen mitgewirkt. Seit 2015 lehrt er an der OTH Regensburg und bringt als Dekan der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik wertvolle Kenntnisse und Perspektiven in die akademische Ausbildung ein.

Bavarian Chip Design Center und Chips Alliance

Die OTH Regensburg ist als eine von fünf Hochschul-Projektpartnern eingebunden in das vom bayerischen Wirtschaftsministerium geförderte Projekt „Bavarian Chip Design Center (BCDC)“, das ebenfalls federführend vom Fraunhofer EMFT (gemeinsam mit Fraunhofer AISEC und Fraunhofer IIS) durchgeführt wird. Holmer ist zudem Mitglied des Beirats der Bavarian Chips Alliance.

„Die Kooperation mit dem Fraunhofer EMFT unterstreicht die Rolle der OTH Regensburg als Innovationsmotor in der Zukunftsbranche Halbleiter. Dank des großen Engagements von Dekan Prof. Dr. Holmer leisten wir wichtige wissenschaftliche Beiträge und stärken die Wettbewerbsfähigkeit der Region“, so Prof. Dr. Ralph Schneider, Präsident der OTH Regensburg.

Teststrategie für die Post-Silizium-Charakterisierung der APECS-Pilotlinie

Die aus der Zusammenarbeit gewonnenen Erkenntnisse sollen auch wertvollen Input für die Forschungsaktivitäten des Fraunhofer EMFT im Rahmen der neuen APECS-Pilotlinie liefern. Holmer wird mit seinem neu gegründeten Forschungsteam am Fraunhofer EMFT eine ganzheitliche Teststrategie für die Post-Silizium-Verifizierung, Charakterisierung und produktive Prüfung von 2.5/3D heterogen integrierten Systemen entwickeln und auf einem professionellen Testsystem umsetzen.

Dies soll künftigen Kunden der Pilotlinie die Möglichkeit eröffnen, neben den Entwicklungen im Bereich der hochintegrierten Radar-Module auf flexiblen Interposern sowie der Ultraschall Sensorik auf eine professionelle, adaptierte Teststrategie zuzugreifen, um Innovationen in diesen Bereichen schnell und mit der nötigen Zuverlässigkeit anzubieten. Dies soll entscheidend zur Stärkung der europäischen Wertschöpfung beitragen.

„Ich freue mich, dass unser Forschungs-Know-how und die enge Kooperation mit der regionalen Halbleiterindustrie dazu beitragen, die OTH Regensburg und ganz Ostbayern als starke Partner in der Chip-Entwicklung zu etablieren“, sagt Holmer.(kr)

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