Fehlererkennung durch Embedded Instruments und Digital Twins || Fehlererkennung durch Embedded Instruments und Digital Twins

Egal ob in der Entwicklung, der Produktion, oder im Feld, überall lauert die Gefahr von unsichtbaren und nicht diagnostizierbaren Fehlern. Das Webinar zeigt Möglichkeiten auf, diese Probleme durch designintegrierte Testmethoden zu lösen.

Innovative Produkte mit höchster Qualität entwickeln, produzieren und nachhaltige Zuverlässigkeit im Einsatz sicherstellen - das sind entscheidende Eckpfeiler für den Markterfolg jedes Elektronikunternehmens.

Dabei kommen immer neuen Designtechnologien Schlüsselfunktionen für die kontinuierliche Miniaturisierung, wachsenden Verarbreitungsgeschwindigkeit, für steigende Funktionskomplexität zu. Allerdings haben diese Innovationen auch eine Kehrseite, denn sie verändern in starkem Maße das Fehlerspektrum, erschweren zunehmend die Erkennung, Diagnose und Lokalisierung von Defekten und führen zu immer komplexeren Betriebssituationen im Zusammenwirken von Software und Hardware.

GÖPEL electronic hat sich diesen Herausforderungen angenommen und zur Adressierung der oftmals unsichtbaren Gefahren eine neue holistische Philosophie des Einsatzes von sogenannten Embedded Instruments entwickelt und technologisch in die Praxis überführt.

Das Webinar...

analysiert die unterschiedlichen Gefahren anhand von spezifischen Referenzmodellen,
erklärt die Philosophie von Embedded Instruments,
stellt die dafür entwickelten Produktlösungen und Systemtechnologien vor
und demonstriert anhand von Fallstudien die hervorragende praktische Effizienz der Methoden.