Klaus Heil und Thomas Gorka leiten in der Elektronikfertigung bei Turck in Halver die Prüfmittelentwicklung (Archiv: Vogel Business Media)
Optimale Testabdeckung bei Low-volume/High-mix-Fertigung

Warum Turck für In-Circuit- Funktions- und Boundary-Scan-Test den CT300 Meteor einsetzt

Interface-Lösungen zum Trennen und Umformen, sowie Verarbeiten, Wandeln und Anpassen binärer und analoger Signale, modulare Remote-I/O-Systeme, Feldbuskomponenten für Prozessautomation und Ex-Bereich fertigt die Turck Gruppe in Halver im Sauerland. Für die Prüfmittelentwicklung und Produktion nutzt Turck In-Circuit-, Funktions- und Boundary-Scan-Tests mit dem CT300 Meteor von Dr. Eschke Elektronik und verbucht Kostenvorteile und Qualitätsverbesserungen.

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 (Archiv: Vogel Business Media)
Lötbarkeit von RoHS-konformen Bauelementen

Der Einfluß von bleifreien Oberflächen auf die Lagerfähigkeit von Halbleitern

Die Halbleiterindustrie stellt momentan die Produktion der „leadframe ICs“, der Komponenten mit Metallkontakten auf bleifreie Oberflächenvarianten um. Anwender interessiert hier vor allem, wie lange man diese neuen Komponenten vor dem Lötprozess lagern kann. Im Rahmen einer Studie hat Texas Instruments mit Hilfe der Battelle-Umgebung Klasse 2 die 8-Jahre-Lagerung in einem nicht klimatisierten Raum für die bedrahteten Bauelemente simuliert. Ergebnis: Für die getesteten Oberflächen ergibt sich ein Wert, der weit über der durchschnittlichen Lagerzeit in der Industrie liegt.

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