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Vollautomatisierte Multi-Panel-Programmierung Flying-Prober erhält integrierten Boundary Scan für kombinierte Testabläufe

Quelle: Pressemitteilung 1 min Lesedauer

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GÖPEL electronic GmbH
SPEA GmbH Systeme f. professionelle Elektronik und Automation
ROHM Semiconductor GmbH
Keysight Technologies Deutschland GmbH

Weil moderne Flying-Probe-Systeme schnell, flexibel und vielseitig geworden sind, nutzen immer mehr Elektronikfertiger sie für In-Circuit-Tests und Bauteilprogrammierung – besonders bei mittleren Seriengrößen. Göpel integriert jetzt Boundary Scan in Takayas APT-2600FD.

Göpel integriert Boundary Scan in Takayas Flying Prober APT-2600FD. (Bild: Göpel)
Göpel integriert Boundary Scan in Takayas Flying Prober APT-2600FD.
(Bild: Göpel)

Boundary Scan ist eine digitale Testmethode nach IEEE 1149.1, bei der in vielen ICs integrierte Testzellen an den Pins genutzt werden, um Signale auszulesen oder zu setzen, ohne die Leiterplatte physisch kontaktieren zu müssen. Über die JTAG-Schnittstelle lassen sich so Verbindungen zwischen Bauteilen prüfen, Fehler wie offene Lötstellen oder Kurzschlüsse erkennen sowie Controller, FPGAs oder Flash-Bausteine programmieren. Das ist besonders bei modernen, hochintegrierten Baugruppen wichtig, bei denen klassische Nadeltests aufgrund dichter Layouts oder verdeckter Anschlüsse an ihre Grenzen stoßen.

Flying-Probe-Systeme gewinnen vorwiegend in der Baugruppenfertigung mittlerer Stückzahlen an Bedeutung. Sie erlauben flexible Teststrategien und eignen sich zunehmend auch für kombinierte ICT- und Programmieraufgaben. Göpel adressiert diese Entwicklung nun mit einem Integrationspaket, das Boundary-Scan-Funktionalität direkt in den Takaya-Flying-Prober APT-2600FD einbettet. Damit entfällt die sonst notwendige manuelle Kontaktierung der Baugruppen, was den Materialfluss beschleunigt und Handlingaufwand reduziert.

Der APT-2600FD verfügt über eine Multiprobe-Option, die auf der Unterseite als Alternative zur üblichen Bottom-Probe ausgeführt ist. Sie ermöglicht die flexible Kontaktierung kundenspezifischer Pad-Geometrien und übernimmt neben der Signalanbindung auch die Versorgung der Prüflingsbaugruppe. Auf dieser Grundlage können JTAG- und Boundary-Scan-Tests, Bausteinprogrammierung sowie Funktionstests vollständig automatisiert und inline ausgeführt werden.

Das Integrationspaket basiert auf der SCANFLEX-II-CUBE-Architektur und nutzt speziell abgestimmte Komponenten für die Multiprobe-Schnittstelle. Über den Software-Handshake zwischen Takaya APT und Göpel-Systemen werden die Prüfschritte sequenziell kombiniert: zuerst MDA und Boundary Scan, anschließend Programmierung und schließlich der Funktionstest. Auf diese Weise lassen sich unterschiedliche Testmethoden auf engem Raum zusammenführen und Produktionsprozesse effizienter gestalten. (sb)

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