Methoden zur Fehlersuche mit einem MSO

Elektronische Schaltungen testen Methoden zur Fehlersuche mit einem MSO

07.05.2009Autor / Redakteur: Rainer Kunz* / Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter

Zur Fehlersuche in elektronischen Schaltungen bieten heutige Mixed-Signal-Oszilloskope (MSO) eine Vielzahl von Methoden und Modi an, um Messaufgaben effizient und planvoll auszuführen. Der Messtechniker sollte jedoch die Funktionen seines Gerätes kennen und sie applikativ einsetzen.

Anbieter zum Thema

EBV Elektronik GmbH & Co. KG

dataTec AG

Cadlog Group

YOKOGAWA Deutschland GmbH Niederlassung Herrsching Test- und Messtechnik

Viele Entwickler und Servicetechniker stehen oftmals vor der Problemstellung, dass eine elektronische Baugruppe reproduzierbar oder sporadisch Fehlfunktionen in digitalen und/oder analogen Signale produziert. Diese Fehler können zwar eingegrenzt werden, aber bei der Signalanalyse ist oft nicht bekannt, welche Störungen im Signalverlauf vorhanden sind und wie oft diese — bezogen auf die Zeit — auftreten.

Als analysierendes Mess-System ist in den meisten dieser Fälle ein Digitalspeicheroszilloskop hilfreich. Der Funktionsumfang von Oszilloskopen ist allerdings so groß, dass vielen Anwendern verborgen bleibt, wie diese Funktionen bei einer gegebenen Problemstellung effizient und systematisch genutzt werden können

Segmentierbarer tiefer Akquisitionsspeicher und History-Modus

Bild 1: Der segmentierbare Speicher im History-Modus (Archiv: Vogel Business Media)

Um bei einem Oszilloskop interessierende Signalereignisse dauerhaft sehen und quantifizieren zu können ist es erforderlich, eine geeignete Triggerbedingung zu formulieren. Genau diese ist in den wenigsten Fehlerfällen im Voraus bekannt.

Die meisten Mixed-Signal-Oszilloskope besitzen zwar einen Auto-Trigger-Modus der dafür sorgt, dass alle etwa 100 ms selbsttätig getriggert wird, damit auf dem Bildschirm Signalformen dargestellt werden. Wenn der Anwender dann aber eine Signalanomalie visuell wahrnimmt und die Akquisition stoppt, befinden sich aufgrund der hohen Update-Raten schon neue Messdaten im Speicher. Das Gesehene wird nicht dargestellt und kann folglich auch nicht mehr analysiert werden. Hier wird ein wesentlicher Vorteil eines segmentierbaren tiefen Speichers wirksam.

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