ZVEI Leitlinien zur Validierung von Halbleitern für Kfz

In Zusammenarbeit mit der Society of Automotive Engineers, dem japanischen SAE und dem Automotive Electronic Council hat die Arbeitsgruppe „Robustness Validation“ des ZVEI nun Leitlinien für eine zeitgemäße Validierung von Halbleiterkomponenten für den Einsatz im Auto zusammengestellt.

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Mit dem Lösungsansatz „Robustness Validation“ werden potentielle Fehlermechanismen schon in der Frühphase der Entwicklung über Risikoanalysen ermittelt, wobei jedoch die Bauelemente nicht isoliert betrachtet, sondern auch Einflüsse entlang der Wertschöpfungskette mit einbezogen werden. Dies erfordert „End of Life Tests“ mit spezifischen Untersuchungen, welche die relevanten Fehlermechanismen betrachten.

Datenbank hält Handbuch aktuell

Unter Einbeziehung von Halbleiterherstellern, den wesentlichen Systemhäusern und namhaften OEMs aus Deutschland, USA und Japan konnte ein vielversprechender Konsens auf dem Weg zu dem Ziel „Null Fehler - Zero Defect“ erzielt werden. In dem nun vorgestellten „Handbook for Robustness Validation of Semiconductor Devices in Automotive Applications“ werden die wesentlichen Elemente des neuen Qualifikationskonzeptes beschrieben und mit Hilfe einer ergänzenden Datenbank ständig auf dem neusten Stand gehalten.

Nun sind Module an der Reihe

Nach den überzeugenden Zwischenergebnissen der Arbeitsgruppe mit einem deutlich effizienteren Prüf- und Freigabeverfahren bei Komponenten wurde bereits im September 2006 in logischer Fortsetzung eine entsprechende Initiative „Robustness Validation Modules“ auf Baugruppenebene gestartet. Sie ist bereits auf sehr großes Interesse gestoßen und wird eine der Schwerpunkttätigkeiten des ZVEI im Bereich der Automobil-Elektronik im Jahre 2007 bilden.

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