Intelligente Speichersysteme der Zukunft

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NAND-Flash-Bausteine – Fehlermechanismen und Datenmanagement (Forts.)

• Defektblöcke (Bad Blocks). Bei NAND-Flashes können einzelne Speicherbereiche bereits zum Zeitpunkt der Auslieferung Fehler aufweisen – man spricht hier von so genannten Defektblöcken oder Bad Blocks, die in zwei Kategorien unterteilt werden:
• Bad Blocks zum Zeitpunkt der Auslieferung – Alle defekten Speicherblöcke eines Flashbausteins, die aufgrund des Herstellungsprozesses nicht durch eine externe Anwendung genutzt werden können. Der erste Block eines Speicherbausteins (Block „0“) wird dabei von den meisten NAND-Flash-Herstellern bei Auslieferung als fehlerfrei garantiert und dient z.B. zur Speicherung des Boot-Codes.
• Durch Nutzung des Speichers hervorgerufene Blockfehler. Während der Nutzung des Speichers auftretende Blockfehler führen zu Fehlern bei Programmier- oder Löschoperationen. Für eine hohe Integrität der gespeicherten Daten gilt es, solche Bad Blocks durch Kopieren der jeweiligen Inhalte an einen anderen Speicherort zu ersetzen.

Für eine garantierte Konsistenz von gespeicherten Daten und Code muss jedes System, das einen NAND-Flash-Speicherbaustein enthält, über ein geeignetes Flash-Datenmanagement verfügen, um den oben erwähnten technischen Beschränkungen erfolgreich Paroli bieten zu können. Dies erfolgt mit Hilfe leistungsfähiger Algorithmen, die sowohl als Softwareroutinen oder als eigenständige HW-Blöcke implementiert sein können (siehe Tabelle 3).

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