Analyse-Scanner für bestückte Leiterplatten Leiterplatten auf fehlbestückte Bauteile prüfen

Mit dem Analyse-Scanner lassen sich auf einfache Weise bestückte Leiterplatten auf Fehlbestückungen oder fehlerhafte Bauteile hin untersuchen. Hierfür wird eine erste als GUT geprüfte

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dataTec AG

Beta LAYOUT GmbH

Precoplat Präzisions-Leiterplatten-Technik GmbH

Technisches Büro Kullik & Partner Vertriebs GmbH

Mit dem Analyse-Scanner lassen sich auf einfache Weise bestückte Leiterplatten auf Fehlbestückungen oder fehlerhafte Bauteile hin untersuchen. Hierfür wird eine erste als GUT geprüfte Leiterplatte gescannt und das Abbild gespeichert. Zum Vergleich werden gleiche, aber nicht geprüfte Leiterplatten eingelesen.

Beide Bilder werden abwechselnd mit einem gleichmäßigen Rhythmus auf dem Schirm eines Computers gezeigt, dabei blinken alle zum Original unterschiedlichen Positionen. Mit der dazugehörigen Software können die Positionen der Fehlstellen angefahren werden und mit den hinterlegten Konstruktionsdaten verglichen werden; der Fehler und seine richtige Alternative sind schnell und ohne große Vorkenntnisse zu erkennen und zu berichtigen.

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