Modulare Testplattform Optische und elektronische Bauelemente präzise charakterisieren

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YOKOGAWA Deutschland GmbH Niederlassung Herrsching Test- und Messtechnik

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In der Photonik-, Halbleiter- und Glasfaserindustrie sind Lösungen gefragt, die optische und elektrische Messgrößen effizient erfassen und auswerten. Die modulare Plattform AQ2300 bietet eine verkürzte minimale Mittelungszeit von 20 µs.

Die modulare Testplattform AQ2300 von Yokogawa Test & Measurement unterstützt mit einer präzisen und effizienten Charakterisierung optischer und elektronischer Komponenten. Mit den jetzt vorgestellten optischen Leistungsmessmodulen AQ23211A (einkanalig) und AQ23212A (zweikanalig) adressiert Yokogawa gezielt die wachsenden Anforderungen in Forschung, Entwicklung und Produktion von Halbleiterbauelementen sowie passiven optischen Komponenten.

Technische Neuerungen im Überblick

Die optischen Leistungsmesser basieren auf der bewährten AQ2200-Serie und bieten zahlreiche Verbesserungen. Ein Highlight ist die drastisch verkürzte minimale Mittelungszeit von 20 µs – eine signifikante Steigerung gegenüber bisherigen 100 µs. Damit wird eine wesentlich schnellere und gleichzeitig präzisere Messdatenerfassung möglich, ideal für Applikationen mit hohem Datenvolumen.

Auch die maximale Datenpunktanzahl wurde massiv erhöht: Statt bisher 20.001 sind jetzt bis zu 1.000.001 Punkte erfassbar. Das beschleunigt die Erfassung großvolumiger Datensätze und verkürzt die Übertragungszeit für 100.001 Punkte auf unter eine Sekunde.

Das Wellenlängenspektrum der Module reicht von 800 bis 1.700 nm, der Messbereich von –90 bis 15 dBm. Diese Spezifikationen decken gängige Anforderungen der optischen Kommunikation und Glasfasertechnik umfassend ab.

Kombination aus optischer und elektrischer Messtechnik

Innerhalb desselben Chassis ist der optische Leistungsmesser nahtlos mit der Source-Measure-Unit (SMU) AQ23811A integriert. Über eine kabellose, interne Synchronisation lassen sich optische und elektrische Messungen präzise zeitlich koppeln – ohne zusätzliche Verdrahtung. Selbst die Synchronisation mehrerer Rahmensysteme erfolgt mit minimaler Verzögerung.

Die SMU unterstützt präzise Pulsansteuerungen ab 50 µs sowie gleichzeitige Spannungs- und Strommessungen. Damit entsteht eine kompakte und flexible Testlösung für die Charakterisierung photonischer und elektronischer Komponenten in einem System.

Über ein digitales I/O-Interface können zudem externe Trigger eingebunden und Messergebnisse automatisiert verarbeitet werden – eine optimale Voraussetzung für automatisierte Test- und Fertigungsprozesse.

Modularität und Bedienkomfort

Die Plattform ist in Varianten mit drei oder neun Steckplätzen erhältlich (AQ23011A oder AQ23012A) und bietet so hohe Flexibilität bei der Systemkonfiguration. Über einen LCD-Touchscreen haben Anwender direkten Zugriff auf zentrale Funktionen wie Sweep, Logging oder Stabilitätsmessungen. Alternativ kann das System per integriertem Web-Server über LAN gesteuert werden.

Für die optische Qualitätskontrolle ist an der Frontseite ein USB-Anschluss für den direkten Anschluss eines Fasermikroskops vorhanden. Damit lässt sich die Stirnfläche eines Lichtwellenleiter-Steckers unkompliziert und ohne externe Geräte inspizieren.

• Charakterisierung von LEDs, Laserdioden, Fotodioden und optischen Transceivern,

• Vermessung von Transistoren und FETs,

• Prüfung passiver optischer Komponenten, insbesondere Glasfaserleitungen und

• Integration in automatisierte Testsysteme und Fertigungslinien.

Als Zielgruppen sieht Yokogawa Hersteller optischer und elektrischer Halbleiterbauelemente (LEDs, Laser, Fotodioden oder Transceiver), Produzenten passiver optischer Komponenten wie Lichtwellenleiter sowie Anbieter von Test- und Assemblieranlagen für optische Komponenten und Hochschulen und Forschungseinrichtungen. (heh)

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