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OLED-Displays Neue Messtechnik erkennt das Mura-Phänomen

Von Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter 2 min Lesedauer

Anbieter zum Thema

ACTRON AG
DMB Technics AG
Shanghai Yongming Electronic Co., Ltd.

Mit einer neuen Messtechnik lassen sich OLED-Displays unter extrem niedrigen Leuchtdichten analysieren. Das ist besonders bei der Degradation von OLED-Displays interessant.

Eine neuentwickelte Messtechik analysiert das Verhalten von OLED-Displays unter extrem niedrigen Leuchtdichten.(Bild: TOYOTech)
Eine neuentwickelte Messtechik analysiert das Verhalten von OLED-Displays unter extrem niedrigen Leuchtdichten.
(Bild: TOYOTech)

Sharp Display Technology Corporation und das Japan Advanced Institute of Science and Technology haben eine neuartige Messtechnik entwickelt, die das Verhalten von organischen Leuchtdioden (OLEDs) unter extrem niedrigen Leuchtdichten analysiert. Mit der entwickelten Technik lässt sich die Lücke zwischen der Schwellspannung des Stromflusses und der Spannung, bei der die Lichtemission einsetzt messen. Unter diesen Bedingungen sind OLEDs besonders schwer zu analysieren, da bei niedrigen Leuchtdichten sehr geringe Ströme fließen und die Lichtemission kaum messbar ist. Das sind zwei Faktoren, die eng mit der Degradation von OLEDs zusammenhängen. Damit erhalten Entwickler ein tieferes Verständnis über das Verhalten von OLEDs nahe der Einschaltschwelle.

Eine OLED emittiert Licht, wenn eine Spannung an organische Verbindungen angelegt wird. Aufgrund ihrer selbstleuchtenden Eigenschaften benötigen OLEDs keine Hintergrundbeleuchtung. Allerdings hängt die Effizienz und Lebensdauer einer OLED von den Herstellungsprozessen ab. Dabei speziell von der genauen Abscheidung der dünnen organischen Schichten. Traditionell charakterisiert man eine OLED mit der J-V-L-Messung (Stromdichte-Spannung-Leuchtdichte), bei denen Stromfluss und Helligkeit in Abhängigkeit von der Spannung erfasst werden. Diese Methode stößt jedoch an ihre Grenzen, insbesondere bei sehr kleinen Strömen und niedrigen Helligkeitsstufen, die zu Beginn der Lichtemission auftreten.

Analyse des Mura-Phänomens

Die neu entwickelte Messtechnik überwindet diese Hürden. Durch die Messung des geringen Offsetstroms und der Emissionsintensität mit einer hochempfindlichen Silizium-Photodiode kann die Differenz zwischen Stromfluss und Lichtemission präzise bestimmt werden. Dies eröffnet neue Möglichkeiten zur Analyse des Mura-Phänomens und trägt zur Optimierung der Leistungsfähigkeit von OLED-Displays bei.

Bei dem Mura-Phänomen handelt es sich um eine Art von Bildfehler in Displays, die sich als ungleichmäßiger Helligkeit oder Farbabweichungen zeigen. Der Begriff Mura stammt aus dem Japanischen und bedeutet Unregelmäßigkeit oder Fleckigkeit. Diese Bildstörungen treten typischerweise bei niedrigen Leuchtdichten auf, also bei dunklen Bildinhalten oder schwacher Beleuchtung, und können sich als dunklere oder hellere Flecken auf dem Bildschirm äußern. Genau hier soll die neuentwickelte Messtechnik ansetzen. (heh)

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