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Verbesserte Halbleiteranalyse NI und Teradyne: Offene Testarchitektur verbessert Integration von ATE-Plattformen

Von Dipl.-Ing. (FH) Hendrik Härter 2 min Lesedauer

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Halbleitertests sollen sich mit dem Enablement Layer für die GO-Plattform von NI in Echtzeit steuern lassen. Die offene Architektur unterstützt ATE-Anbieter und -Plattformen und Teradyne sein Analysewerkzeug bringt KI und maschinelles Lernen mit.

Für die verbesserte Halbleiteranalyse arbeiten NI und Teradyne zusammen. Entwickler profitieren von einer offenen Architektur, mit der sich alle ATE-Anbieter und -Plattformen unterstützen lassen.(Bild: NI)
Für die verbesserte Halbleiteranalyse arbeiten NI und Teradyne zusammen. Entwickler profitieren von einer offenen Architektur, mit der sich alle ATE-Anbieter und -Plattformen unterstützen lassen.
(Bild: NI)

Die Anforderungen an den Halbleitertest steigen: mehr Qualität, Ausbeute, Durchsatz und Funktionalität. Entwickler werden von National Instruments (NI) mit Global Operations und dem dazugehörigen Real-Time-Applications-Enablement-Layer unterstützt. Damit wird die Funktionalität der bisherigen GO-Plattform auf sichere Testserver mit geringer Latenz erweitert. Die GO-Plattform erfasst, bereinigt und analysiert Daten aus verschiedenen Produktions- und Unternehmensdatenquellen.

Der neue Enablement Layer erweitert die offene Architektur und die Analysefunktionen von NI Global Operations (GO-Plattform) um die integrierte Unterstützung von ATE-Testplattformen. Deren lokale Daten-, Sicherheits- und Kommunikationsprotokolle bilden zusammen mit der NI GO-Backend-Analyse eine vollständige und zuverlässige Lösung für die Echtzeitsteuerung von Halbleitertests. Die Zusammenarbeit mit Teradyne bedeutet, dass deren Testgeräte Zugang zu diesen neuen Funktionen erhalten. Darüber hinaus ermöglicht die offene Architektur in Zukunft die Unterstützung aller ATE-Anbieter und -Plattformen.

Alle Daten und das geistige Eigentum sind geschützt

Durch die direkte Zusammenarbeit mit ATE-Anbietern ist NI in der Lage, langfristigen Support und eine verbesserte Zusammenarbeit anzubieten. Diese Beziehungen sollen eine kombinierte und integrierte Architektur ermöglichen, die ATE-Server besser ausnutzt. Gleichzeitig sollen Möglichkeiten für einen optimierten Halbleitertest geschaffen werden. Im Rahmen der Zusammenarbeit können ATE-Anbieter ihre Testplattformen durch integrierte Edge-Lösungen sicherer machen.

Das Analysewerkzeug Archimedes von Teradyne kombiniert Datenanalyse, künstliche Intelligenz und maschinelles Lernen für Halbleitertests. Dank einer offenen Architektur ist es möglich, verschiedene Analysemodelle zu unterstützen und einen sicheren Datenfluss in Echtzeit zu gewährleisten, ohne die Testzeit zu beeinträchtigen. „Dank dieser Zusammenarbeit ist es möglich, fortschrittliche Lernmodelle in Verbindung mit sicheren, echten Daten für qualitativ hochwertige Endprodukte bereitzustellen“, sagt Regan Mills von Teradyne.

Als Teil des Archimedes-Ökosystems von Teradyne verfügen die Analysemodelle und -anwendungen von NI GO über die Rechenressourcen, um näher als je zuvor an den Testaktivitäten zu agieren. Datengesteuerte Aktionen und Kontrollen können während der Testausführung ausgelöst werden.

Darüber hinaus sind alle Daten und das geistige Eigentum ausreichend geschützt. Re-Binning oder DPAT können in Echtzeit eingesetzt werden, während gleichzeitig neue und eigen-entwickelte Anwendungen wie beispielsweise Drift Detection integriert werden können.

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