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In-Circuit-Test — Testen von Bauteilen in einer Schaltung

Analoge und digitale Bauelemente werden auf ihre Werte oder Funktion überprüft. Dabei werden die Bauteileparameter, die Polarität, die Kontaktierung der Bauelemente sowie die Kurzschlussfreiheit unter den elektrischen Netzen geprüft. Das Prüfen einzelner Bauelemente innerhalb einer komplexen Schaltung wird durch elektrisches Isolieren (Guarding) der Bauelemente erreicht.
- Welche Vorteile bietet der In-Circuit-Test?

Bauteilwerte werden überprüft und Fertigungsfehler erkannt. Im Fehlerfall wird in der Regel direkt auf das falsche/defekte Bauteil hingewiesen. Mit dieser Diagnose ist die Reparatur der Baugruppe einfach. Das automatische Erstellen des Prüfprogramms erfolgt durch Einlesen von CAD- und Stücklistendaten. Automatische Programmgeneratoren (APG) erstellen daraus ein Prüfprogramm mit allen notwendigen Parametern für den Test der einzelnen Bauelemente. Die Testzeit ist sehr gering, somit kann eine kleine Taktzeit erreicht werden.
- Welche Nachteile hat der In-Circuit-Test?
Für einen kompletten ICT wird ein Adapter mit Kontaktnadeln an jedem elektrischen Knoten benötigt. Diese Adaptionen können recht hohe Kosten verursachen. Wirklich dynamische Tests sind weitgehend nicht machbar. Entwicklungsfehler werden in der Regel nicht erkannt.
Der Funktionstest — Testen der Funktion einer Schaltung oder Schaltungsteilen

Durch Anlegen von digitalen und/oder analogen Stimuli an den Eingängen einer Schaltung und Überprüfen der Ausgangsparameter wird die Funktion der Baugruppe verifiziert. Dadurch wird das Zusammenspiel der einzelnen Bauteile der Schaltung geprüft und die richtige Funktion der Schaltung ermittelt.
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