Warum Turck für In-Circuit- Funktions- und Boundary-Scan-Test den CT300 Meteor einsetzt

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Die Entscheidungsfindung bei den Prüfmittelspezialisten

Klaus Heil und Kollegen ist klar, dass in mehrere neue Testsysteme investiert werden muss, um die von Beginn an definierte Testtiefe und festgelegte Testabdeckung zu erzielen und gleichzeitig die gefertigten Volumina zu bedienen. In letzter Konsequenz spielt die Testgeschwindigkeit der Messdurchgänge und die Genauigkeit der Messergebnisse eine wichtige Rolle. Unter dieser Prämisse haben die Fachleute aus Halver verschiedenste Geräte analysiert, die das Anforderungsprofil erfüllen können. Nach diversen Tests unter realen Bedingungen und Benchmarks fiel schließlich die Entscheidung PRO Dr. Eschke Elektronik.

Zum einen überzeugte die Fachleute bei Turck die Schnelligkeit der Singalübertragung zwischen Tester und PC über die USB2-Schnittstelle und das rasche Abarbeiten der Befehle im Rechner. Auch die Leistungsfähigkeit der integrierten Module in einer kompakten Einheit traf die Vorstellungen.

Die unter Windows üblichen Latenzzeiten, der Zeitraum zwischen einer Aktion und dem Eintreten einer unbestimmt verzögerten Reaktion, traten bei dem System auf Grund interner Lösungen nicht auf. Das ist dem superschnellen Mikroprozessor mit RISC/DSP-Struktur im zentralen Tester-Steuermodul zu verdanken, der alle Aktionen in Echtzeit abarbeitet. Eben die Aktion ausgelöst und schon liegt die Reaktion an.

Das macht sich bei einer Vielzahl verschiedener Messungen, z.B. von R-, L-, C- Komponenten, Spannungen, Strömen, … sehr positiv bemerkbar. Denn wird eine Messung ausgelöst, sollte diese in klar definierten konstanten Zeitabständen erfolgen. Bei variierenden Laufzeiten zwischen dem Auslösen und dem Durchführen einer Messung sind stärker streuende Messergebnisse zu erwarten. Parallel zum In-Circuit und Funk-tionstest wurde für die Tester eine Boundary Scan Software geliefert.

„Bei uns werden aufgrund der Typenvielfalt mehr als zwölfmal täglich Prüfprogramme und damit Prüfadapter gewechselt“, so Thomas Gorka. „Für uns ist es daher überaus wichtig, die Rüstzeiten so kurz wie möglich zu halten“. Bei Turck wurde das Umrüsten der Adapter auf ein neues Produktionslos und das Einlegen der Prüflinge soweit vereinfacht, dass die Handlingszeiten auf ein Minimum reduziert werden konnten. Zu guter Letzt war auch das vergleichbare Preis-/Leistungsverhältnis der Testsysteme ein entscheidender Faktor für den Zuschlag an Dr. Eschke Elektronik.

Warum die Entscheidung für den Tester CT300 Meteor ausfiel

„Unser Augenmerk richtete sich im Rahmen intensiver Benchmarks auch auf die Testsysteme von der Firma Dr. Eschke. Wir wollten wissen, welche Ergebnisse die Systeme mit Blick auf Testabdeckung und Testtiefe bei unseren Produkten bringen“, erläuterte Klaus Heil das Pro für den Berliner Testgerätehersteller. Dass neben der Dr. Eschke Elektronik noch andere Anbieter mit boten, versteht sich von selbst. Doch die Flexibilität, die Mixed Signal Eigenschaften, schnelle Testverfahren, sehr gute Messgenauigkeiten sowie der kombinierte In-Circuit-, Funktions- und Boundary Scan Test sprechen für sich. Die Testsysteme sind modular, skalierbar, hoch integriert und vor allem auch leicht zu bedienen.

Insgesamt ist eine Palette von 26 Modultypen verfügbar. Das System ist in weiten Grenzen erweiterungsfähig. Zusatzgeräte lassen sich über Standard-Interfaces vollständig in das System und seine Umgebung einbinden. Aufgrund seiner Architektur zählt das System mit zu den schnellsten Board-Testsystemen der Industrie.

Die Testermodule weisen zudem eine ganze Reihe herausragender Merkmale auf. Das zentrale Steuermodul SM2-4 ist mit einem 32-Bit-RISC/DSP mit Realtime Kernel, also einem Echtzeitprozessor, ausgestattet. Der sichert die schnelle Kommunikation mit dem Steuer PC, die Testerparametrierung, die Testablaufsteuerung inklusive Taktgenerierung und den Tester Selbsttest. Allein durch dieses Modul werden vier Versorgungsspannungen, eine komfortable Schnittstelle zur externen Testersynchronisation und ein frei programmierbares Handler-Steuer-Interface bereitgestellt.

Boundary Scan in den Testsystemen CT3XX integriert

Im Testsystem CT3XX ist bereits ein eigens entwickeltes Boundary-Scan-Modul integriert. Vorteil: In-Circuit-Test, Funktionstest und Boundary Scan laufen unter einer konsistenten Bedienoberfläche und Steuersoftware lauffähig ist - „Fremdtools“ sind nicht nötig.

Die Fachleute bei Turck um Klaus Heil sehen den Einsatz von Boundary Scan Boundary Scan absolut pragmatisch. Das Entwickeln neuer Produkte wird beschleunigt. Boundary Scan kann bereits in dieser Design-Phase eingesetzt, und aufgrund dieses Zeitgewinns werden die Baugruppen früher in die Produktionsphase geschleust, verkürzen damit die Time to Market und erhöhen so die Wettbewerbsfähigkeit.

Über das Boundary Scan Modul werden die Pegel auf den Leiterbahnen (Netzknoten) über die Pins der damit verbundenen Boundary Scan fähigen Bauteile getrieben und gemessen. Ob High-, Low- oder Tristate-Zustände an dem Pin eingestellt werden sollen, oder ob der Pin-Status einfach zurück gelesen wird, legt der Operator über eine komfortable Bedienoberfläche fest. Externe USB-JTAG Converter sind nicht erforderlich. Diese Funktion wird bei den Testsystemen durch die Digitalmodule mit übernommen.

Die Programmierung der Testabläufe erfolgt, anstelle der Anwendung von Hochsprachen oder sonstigen Scripten, über vollgrafische Eingabemasken. Das nutzt der für die Prüfmittelentwicklung zuständige Thomas Gorka konsequent aus. Originalton Gorka: „Die Programmierung ging noch nie so schnell wie jetzt. Gerade bei Korrekturen oder auch konzeptionellen Änderungen macht sich das im geringen Zeitaufwand sehr positiv bemerkbar“.

*Manfred Frank ist freier Fachjournalist in Mühlheim.

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