Parameter von A/D-Wandlern einfach ermitteln

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Schritt 3: Histogramm erstellen

Mittels des „MultiHistogram-Testers“ lassen sich – sobald ein Sinus-Signal am Wandler anliegt – die „Probability Density Function“ erstellen oder – bei einem Gleichstrom-Signal bzw. bei kurzgeschlossenen Wandlereingängen – der Offset-Fehler sowie die effektive Bit-Anzahl (ENOB) bestimmen.

Mithilfe dieser drei Tester ist ein vollständiges Vermessen des Wandlers möglich. Abgespeicherte Messwerte lassen sich erneut anzeigen und auswerten. Mithilfe des sogenannten „Triple-Generator“ können Referenzsignale mit dem idealen Signal verglichen werden.

Schlüsselparameter ermitteln

Mit dem für viele Wandler des Unternehmens verfügbaren Evaluierungsmodul kann der Anwender den ausgewählten A/D-Wandler sowohl mit seiner eigenen Konfiguration als auch mit seinem systemspezifischen Front-End und Eingangssignal oder mit den in seinem System vorliegenden Takten und Datenraten testen und die gewünschten Schlüsselparameter ermitteln.

Die erzielten Messergebnisse können von den Datenblattparametern des Herstellers abweichen. Dies liegt daran, dass zur Messung unter Umständen andere Messmethoden und Signalquellen verwendet werden.

Als weitere Hilfsmittel stehen das Simulationsprogramm TINA-TI für analoge Schaltkreise oder das „Data Converter Support Tool“, das automatisch für viele Wandler und die populärsten Signalprozessoren des Unternehmens Interface-Software erstellt, zur Verfügung.

*Dipl.-Ing (FH) Richard Oed ist als Applikationsingenieur bei Texas Instruments in Freising tätig.

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