Testsysteme Kompaktes CION LX Evaluation Board zum Testen und Entwickeln
Im Rahmen der Boundary Scan Days 2014 stellt der Testspezialist GÖPEL electronic das CION LX Evaluation Board (EVB) vor. Die Baugruppe wurde zur Demonstration der Testmöglichkeiten des CION-LX-Schaltkreises entwickelt,der den ersten per JTAG steuerbaren Tester on Chip (ToC) weltweit darstellt.
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Der Anwender kann mithilfe des Evaluation Board sämtliche Funktionsmodi verifizieren und darüber hinaus eigene Applikationen und Testszenarien entwickeln. Damit lassen sich das gesamte Leistungsspektrum des CION-LX-Chips sowie das Potential der Embedded-System-Access-Technologie erschließen.
Steckverbinder machen sämtliche Pins des Schaltkreises verfügbar. Das Board bietet außerdem Zusatzressourcen wie LED und einen einstellbaren Clock-Generator bis 170 MHz, was eine gute Basis zum Nachvollziehen von Frequenzmessungen oder Signalaufzeichnungen durch den digitalen Waveform-Recorder darstellt.
Die Steuerung erfolgt über den JTAG-Port. Zudem besitzt das Evaluation Board einen TAP-Steckverbinder, der einen direkten Zugriff über Boundary-Scan-Controller wie dem Typ PicoTAP erlaubt.
Der CION LX verfügt über vier unabhängige I/O-Ports. Jeder Port kann individuell in einem Spannungsbereich von 0,9 V bis 3,6 V betrieben werden. Die integrierte Boundary-Scan-Architektur unterstützt die Standards IEEE1149.1, IEEE1149.6 und IEEE1149.8.1. Die vier Betriebsmodi ermöglichen die Nutzung des Schaltkreises als seriell gesteuerten JTAG-Transceiver, parallelen I/O-Buffer, gelatchten Bus-Transceiver sowie als Pin-Treiber.
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