Testsysteme Kompaktes CION LX Evaluation Board zum Testen und Entwickeln

Redakteur: Franz Graser

Im Rahmen der Boundary Scan Days 2014 stellt der Testspezialist GÖPEL electronic das CION LX Evaluation Board (EVB) vor. Die Baugruppe wurde zur Demonstration der Testmöglichkeiten des CION-LX-Schaltkreises entwickelt,der den ersten per JTAG steuerbaren Tester on Chip (ToC) weltweit darstellt.

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Tester on Chip: Der Anwender kann mithilfe des Evaluation Board sämtliche Funktionsmodi verifizieren und darüber hinaus eigene Applikationen und Testszenarien entwickeln.
Tester on Chip: Der Anwender kann mithilfe des Evaluation Board sämtliche Funktionsmodi verifizieren und darüber hinaus eigene Applikationen und Testszenarien entwickeln.
(Bild: GÖPEL electronic)

Der Anwender kann mithilfe des Evaluation Board sämtliche Funktionsmodi verifizieren und darüber hinaus eigene Applikationen und Testszenarien entwickeln. Damit lassen sich das gesamte Leistungsspektrum des CION-LX-Chips sowie das Potential der Embedded-System-Access-Technologie erschließen.

Steckverbinder machen sämtliche Pins des Schaltkreises verfügbar. Das Board bietet außerdem Zusatzressourcen wie LED und einen einstellbaren Clock-Generator bis 170 MHz, was eine gute Basis zum Nachvollziehen von Frequenzmessungen oder Signalaufzeichnungen durch den digitalen Waveform-Recorder darstellt.

Die Steuerung erfolgt über den JTAG-Port. Zudem besitzt das Evaluation Board einen TAP-Steckverbinder, der einen direkten Zugriff über Boundary-Scan-Controller wie dem Typ PicoTAP erlaubt.

Der CION LX verfügt über vier unabhängige I/O-Ports. Jeder Port kann individuell in einem Spannungsbereich von 0,9 V bis 3,6 V betrieben werden. Die integrierte Boundary-Scan-Architektur unterstützt die Standards IEEE1149.1, IEEE1149.6 und IEEE1149.8.1. Die vier Betriebsmodi ermöglichen die Nutzung des Schaltkreises als seriell gesteuerten JTAG-Transceiver, parallelen I/O-Buffer, gelatchten Bus-Transceiver sowie als Pin-Treiber.

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