Oszilloskop Keysight Infiniium XR8 als Antwort auf moderne Testanforderungen

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Keysight Technologies Deutschland GmbH

Kürzere Testzeiten und schnellere Validierungen von mehreren Tagen auf wenigen Stunden verspricht Keysight mit dem Infiniium XR8. Der Hersteller hat dem Gerät ein neues Front-End-ASIC spendiert und die Software-Plattform überarbeitet.

Keysight stellt die Oszilloskope aus der Serie Infiniium XR8 vor. Damit sollen sich Testzeiten signifikant verkürzen und die Signalqualität steigen. Die XR8-Serie bietet Bandbreiten zwischen 8 und 33 GHz bei simultaner 4-Kanal-Abtastung mit 128 GS/s. Die native 12-Bit-ADC-Architektur sorgt für eine deutlich höhere vertikale Auflösung als herkömmliche 8-Bit-Systeme und ermöglicht präzisere Messungen bei geringerem Rauschen. Je nach Modell sind Bandbreiten von 8, 10, 13, 16, 20, 25 oder 33 GHz verfügbar, wobei die Sample Rate von 128 GS/s pro Kanal in Zweierpotenzen konfigurierbar ist. Die Speichertiefe beträgt standardmäßig 1 GPt pro Kanal und lässt sich auf bis zu 8 GPt erweitern.

Front-End-ASIC mit neuer Engine

Hervorzuheben ist der intrinsische Jitter von 13 fs (rms) bei Akquisitionszeiten unter einer Mikrosekunde. Das Grundrauschen liegt bei unter 130 µV bei einer Bandbreite von 8 GHz und steigt bandbreitenabhängig an. Bei einer Bandbreite von 33 GHz und 40 mV Vollausschlag beträgt es 261 µV (rms). Diese Werte ermöglichen es, auch kleinste Signalstörungen zuverlässig zu detektieren.

Das Herzstück des XR8 bildet eine neue Front-End-ASIC-Technologie, die mit einer integrierten ADC- und DSP-Digital-Engine kombiniert wird. Diese Architektur sorgt für konsistente Signalintegrität über alle Kanäle hinweg und verbessert die Zeitgenauigkeit für kritische Jitter-Messungen. Der gemessene Time Interval Error (TIE) beträgt dabei 39 fs rms bei 500 mV Vollausschlag, 33 GHz Bandbreite und 90 Prozent Eingangssignal.

Das RMS-Rauschen variiert erwartungsgemäß mit der gewählten Bandbreite und Eingangsskalierung. Bei einem Vollausschlag von 100 mV liegt es beispielsweise bei 198 µV (8 GHz), 257 µV (16 GHz) oder 386 µV (33 GHz). Selbst bei höheren Eingangspegeln von 400 mV bleibt das Rauschen mit 497 µV (8 GHz) bis 1,19 mV (33 GHz) in einem akzeptablen Bereich für Präzisionsmessungen.

Eine moderne Software-Plattform

Die Infiniium-2026-Software basiert auf Multi-Core-Verarbeitung und ermöglicht parallelisierte Messungen für deutlich schnellere Analyseergebnisse. Die Benutzeroberfläche wurde mit Drag-and-drop-Funktionalität für Messungen, einem integrierten SCPI-Recorder für die Automatisierung und flexiblen Signalfenstern mit verbesserter Visualisierung ausgestattet. Besonders die optimierte Jitter-Zerlegung und PAM-Analyse liefern tiefere Einblicke in das Signalverhalten und beschleunigen die Validierung komplexer Hochgeschwindigkeitsschnittstellen.

Kompakte Bauweise für die Arbeit im Labor

Im Vergleich zu herkömmlichen High-Performance-Oszilloskopen ist das XR8 um 33 % leichter und wiegt 24 kg. Der Stromverbrauch wurde nach Angaben des Herstellers um 33 % auf maximal 900 VA (Scheinleistung) reduziert, während das Gerät gleichzeitig viermal leiser arbeitet. Mit Abmessungen von 445 mm Breite ohne Griffe, 412 mm Tiefe und 317 mm Höhe ohne Füße passt es auch in beengte Laborumgebungen. Diese Kompaktheit ermöglicht es, das Oszilloskop näher am Prüfling zu positionieren, was die Signalintegrität weiter verbessert.

Anwendungsfokus auf moderne Standards

Das XR8 wurde speziell für die Validierung moderner Hochgeschwindigkeitsschnittstellen wie USB4v2, DisplayPort 2.1 und DDR5-Speicher entwickelt. Die hohe Bandbreite und niedrige Jitter-Werte machen es ideal für SerDes-Charakterisierungen bis 33 GHz und PAM-4-Signalanalysen. Die modulare Architektur ermöglicht zudem Bandwidth-Upgrades im Feld – eine wichtige Eigenschaft für Labore mit sich ändernden Testanforderungen. (heh)

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