Funktionsfehler prozessübergreifend effizient detektieren

Fehlererkennung durch Funktionstests sind für alle Produktlebensphasen unabdingbar. Immer komplexere Elektronik steigert jedoch die nötigen Aufwände exponentiell. Das Webinar präsentiert hierfür neue Lösungswege auf Basis eingebetteter Testzentren.

Moderne Teststrategien erfordern mittlerweile mehr als das Prüfen von Boardverbindungen. Neben der einwandfreien Kontaktierung muss vor allem auch die fehlerfreie Board- und Bauteilfunktion sichergestellt werden.

GÖPEL electronic hat sich dieser Problematik bereits seit vielen Jahren angenommen und Test-Technologien entwickelt, welche die notwendige Testinstrumentierung als Teil des nativen Designs implementiert und über den gesamten Produktlebenszyklus nutzbar sind.

So lassen sich diverse On-Board-Instrumente ansprechen und auswerten. Sensoren, ADCs, DACs und verschiedenste Transceiver verfügen über standardisierte Schnittstellen zur Konfiguration. Mit Hilfe von einfachen Lese- und Schreibzugriffen kann die korrekte Funktion dieser Bausteine überprüft werden. Auch On-Chip-Instrumente und Schnittstellen können funktional überprüft werden. Ressourcen auf dem Board werden genutzt, um zum Beispiel eine USB-Host-Slave-Kommunikation anzustoßen und zu überprüfen.

Das Webinar beleuchtet hierzu

die Nutzung von funktionalen Testverfahren auf Basis von eingebetteten Instrumenten,
Applikationsbeispiele, die einen Einblick in die vielfältigen Möglichkeiten der Testverfahren bieten sowie
Fallstudien, die die hervorragende Effizienz der Methoden bei der Validierung von Prototypen als auch deren Überführung in die Produktionspraxis aufzeigen.