ET System electronic GmbH

20.11.2025

High-Density Testing für Automotive Junction Boxes – moderne E/E-Validierung auf neuem Niveau

Mit der zunehmenden Zentralisierung der Bordnetze steigen die Anforderungen an das Testen von Junction Boxes, PDUs und hochintegrierten E/E-Modulen. Viele aktuelle Projekte arbeiten bereits mit 80–100+ unabhängigen Lastkanälen, dynamischen Profilen und anspruchsvollen Standards wie GB/T 31465.1-2015 oder QC/T 707-2004.

Traditionelle elektronische Lasten geraten hier schnell an ihre Grenzen – vor allem bei Platzbedarf, Flexibilität, Parallelbetrieb und Synchronität.

Technische Herausforderungen im Automotive-Testing

⚡ Dutzende unabhängige Sicherungs- und Lastpfade

⚡ Hohe Einschaltströme, PWM-Lasten, Coil-Loads, DC-Motorprofile

⚡ Parallele und hochdynamische Sequenzen mit Sub-ms-Timing

⚡ Aufwendige manuelle Parametrierung bei klassischen Systemaufbauten

⚡ 3–4 Racks voller Einzelgeräte für ein einziges Testfeld

➡️ Ergebnis: hoher Integrationsaufwand, begrenzte Skalierbarkeit und steigende Testkosten.

High-Integration als Gamechanger: N61100 Multi-Channel Electronic Load. Die N61100-Serie bündelt bis zu 12 vollständig isolierte Lastkanäle in nur 3U – ideal für High-Density-Automotive-Setups.

Technische Vorteile:

⚡ Bis zu 50 % weniger Rack-Space

⚡ Flexible Lastmodi – CC, CR, CP, PWM-Profile, Inrush-Simulation

⚡ Präzise Fuse-Trip-Analyse & Messung von Spannungseinbrüchen

⚡ Realistische Simulation typischer Automotive-Verbraucher

⚡ Präzise Kanal-Synchronisation über viele Kanäle

🧩 Software: schnell, modular, fehlerreduziert. Die Testsoftware bietet u. a.:

⚡ Timing Matrix für komplexe Multi-Channel-Abläufe

⚡ One-Click Sequencing für ganze Testpunkt-Serien

⚡ Full-Channel Preview zur sicheren Validierung der Profile

⚡ Historische Datenansicht für schnelle Fehleranalyse

➡️ Weniger Konfiguration, höhere Wiederholbarkeit und deutliche Zeitersparnis in Validierung & EOL-Testing.

🔧 Warum das für die nächste Generation Automotive-E/E entscheidend ist

Moderne Bordnetze benötigen Testsysteme, die:

⚡ viele Kanäle hochdicht integrieren

⚡ realistische Lastprofile präzise abbilden

⚡ Testzyklen spürbar verkürzen

⚡ für künftige E/E-Architekturen skalierbar bleiben

Genau dafür wurde die N61100-Serie entwickelt.

Mehr: https://www.et-system.de/programmierbare-elektronische-lasten/n61100

Wenn Sie an skalierbaren Multi-Channel-Testlösungen für Junction Boxes, PDUs oder andere Automotive-E/E-Module arbeiten, kontaktieren Sie uns gerne.

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