Operationsverstärkerschaltungen optimieren - Teil 2 Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen

Ziel der Rauschuntersuchung bei Operationsverstärkern ist, anhand von Informationen aus dem Datenblatt den Spitze-Spitze-Wert des Ausgangsrauschens eines OPV zu berechnen. Dazu werden Formeln verwendet, die für die einfachsten OPV-Schaltungen gelten. Bei komplizierteren Schaltungen verschaffen sie eine grobe Vorstellung von dem zu erwartenden Ausgangsrauschen.

Eine wichtige Eigenschaft des Rauschens ist seine spektrale Dichte. Die spektrale Dichte des Spannungsrauschens wird über den Effektivwert der Rauschspannung pro Quadratwurzel der Frequenz in Hertz (nV/√Hz) gemessen, während die spektrale Leistungsdichte in W/Hz angegeben wird. Im ersten Teil wurde dargelegt, dass das thermische Rauschen eines Widerstands berechnet werden kann. Diese Gleichung kann in eine Spektraldichteform umgestellt werden. Bei diesem Rauschen ist der flache Verlauf der spektralen Dichte von Bedeutung (d.h. das Rauschen weist bei allen Frequenzen dieselbe Energie auf). Aus diesem Grund wird thermisches Rauschen manchmal als Breitbrandrauschen bezeichnet. Bei Operationsverstärkern gibt es ebenfalls ein Breitbandrauschen.

Den vollständigen Fachartikel als PDF zum Download finden Sie hier: PDF: Eigenrauschen in Operationsverstärkerschaltungen - Teil 2

*Art Kay ist Senior Applications Engineer bei Texas Instruments in Dallas, USA. Katharina Berberich arbeitet als Field Application Engineer, Signal Chain, bei Texas Instruments in Freising.

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