Die optische Datenkommunikation zwingt die Halbleiterindustrie zum Umdenken. Was hat das für Auswirkungen auf den Halbleitertest?

Im Browser öffnen Messtechnik, Sensorik & Test Liebe Leserin, lieber Leser, der Blick auf den Wirtschaftsstandort Deutschland fällt aktuell ernüchternd aus. Budgets werden eingefroren, notwendige Investitionen verschoben und die Zeiten riesiger Messeauftritte sind endgültig vorbei. Laut Geraldine Dany-Knedlik vom Deutschen Institut für Wirtschaftsforschung (DIW) wird die wirtschaftliche Lage durch die geopolitische Eskalation den Aufschwung in Deutschland weiter bremsen. Vor allem die hohen Energiepreise und die Abhängigkeiten der deutschen Industrie machen sich jetzt negativ bemerkbar. Sind damit auch die Zeiten der Fachmessen vorbei? Ganz im Gegenteil. Sie müssen sich allerdings radikal neu erfinden. Das wurde mir in einem Gespräch mit Elena Schultz, Geschäftsführerin der AMA Service, mit Blick auf die kommende Branchenmesse Sensor+Test in Nürnberg wieder sehr bewusst (hier geht es zum ausführlichen Interview). Ihre Erkenntnis bringt die Neuausrichtung unserer gesamten Industrie auf den Punkt: „Sensorik endet heute nicht am Messwert, vielmehr beginnt sie dort.“ Der moderne Elektronikingenieur ist heute halb Hardware-Entwickler, halb Data-Scientist. Er sucht keine isolierten Bauteile mehr, sondern ein durchgängiges Systemverständnis. Das beginnt bei der Signalerfassung, reicht über Edge-Computing bis zur KI-basierten Auswertung. Eine moderne Messe muss zur kuratierten Plattform werden, auf der nicht der größte Stand gewinnt, sondern die smarteste Lösung. Daraus ziehe ich eine für mich wichtige und gleichzeitig auch beruhigende Erkenntnis: Trotz aller Digitalisierung und Unmengen an KI-Tools, die unseren Arbeitsalltag beherrschen, entsteht echte Innovation noch immer nur dort, wo Menschen aus Wissenschaft und Industrie direkt aufeinandertreffen, gemeinsam auf ein Problem schauen und Ideen in reale Anwendungen überführen. Hendrik Härter Redakteur ELEKTRONIKPRAXIS hendrik.haerter@vogel.de Inhaltsverzeichnis „Die Sensor+Test verbindet Wissenschaft und Industrie“ EV-Ladesäulen schneller mit hybridem Tester validieren So lassen sich komplexe Signalanomalien grafisch isolieren TDR und VNA sind in einem Messgerät vereint „Wir verschmelzen Hardware und Embedded AI zu einer Einheit“ Co-Packaged Optics (CPO) in der Hochvolumenfertigung So verbessern Sie die Ausfallsicherheit in 10BASE-T1S Neue Formate, neue Zielgruppen „Die Sensor+Test verbindet Wissenschaft und Industrie“ Eine Messe lebt nicht von der Masse, sondern vom richtigen Moment. Deshalb stellt sich die Sensor+Test neu auf: Es sollen weniger Besucher durchgeschleust werden, um mehr echten Austausch zu ermöglichen. Dazu müssen Wissenschaft und Industrie auf Augenhöhe miteinander reden können. Weiterlesen Ladesäulen-Prüfung EV-Ladesäulen schneller mit hybridem Tester validieren Das deutsche Eichrecht zusammen mit komplexen Kommunikationsprotokollen stellt Techniker und ihre Messtechnik vor Probleme. Hybride Testsysteme sind eine Antwort bei High-Power-Chargern. Weiterlesen Zone-Trigger im Oszilloskop So lassen sich komplexe Signalanomalien grafisch isolieren Komplexe Signalanomalien lassen sich mit herkömmlichen Hardware-Triggern oft nur schwer oder gar nicht erfassen. Bei grafischen Zone-Triggern kann man durch einfaches Markieren auf dem Oszilloskop-Display Fehler isolieren. Ein Leitfaden für den Zeit- und Frequenzbereich. Weiterlesen S-Parameter und Impedanzprofile TDR und VNA sind in einem Messgerät vereint Der WavePulser 40iX von Teledyne LeCroy schließt die Lücke zwischen Time-Domain-Reflektometrie (TDR) und Vektornetzwerkanalyse (VNA). Das Instrument bietet Elektronikentwicklern ein kombiniertes Werkzeug, das sowohl S-Parameter als auch Impedanzprofile von DC bis 40 GHz in einer einzigen Messung liefert. Weiterlesen Vom Sensor zum System „Wir verschmelzen Hardware und Embedded AI zu einer Einheit“ Bosch Sensortec wandelt sich zunehmend vom reinen Komponenten-Lieferanten zum Anbieter kompletter, intelligenter Sensoranwendungen. Ich sprach mit Dr. Ralf Schellin über Referenzdesigns für Asset Tracking, die Bekämpfung von Cyber-Sickness in XR-Anwendungen und die Vorteile von On-Sensor-Processing für die Robotik. Weiterlesen Halbleitertest im KI-Zeitalter Co-Packaged Optics (CPO) in der Hochvolumenfertigung Der Umstieg auf optische Datenkommunikation (CPO) zwingt die Halbleiterindustrie zu einem Umdenken beim Test. Isolierte Laboraufbauten genügen nicht mehr. Notwendig ist ein kohärentes Ökosystem, das optoelektronische Testfähigkeiten nahtlos in bestehende Anlagen integriert. Weiterlesen Gesponsert Zuverlässige 10BASE-T1S Netzwerke So verbessern Sie die Ausfallsicherheit in 10BASE-T1S Sichern Sie deterministische 10BASE-T1S-Netzwerke! Erfahren Sie, wie PLCA Coordinator Redundancy und Advanced Diagnostics die Ausfallsicherheit erhöhen, Verkabelungsfehler aufdecken und stabile Multidrop-Kommunikation gewährleisten. Weiterlesen Whitepaper Gesponsert Elektronikkomponenten zuverlässig gestalten Warum frühe EMV-Simulation entscheidend ist Frühzeitige EMV-Simulation deckt Risiken auf, bevor sie teuer werden. Erfahren Sie, wie Sie Qualität sichern, Kosten senken und Ihre Elektronik schneller auf den Markt bringen. Weiterlesen ELEKTRONIKPRAXIS ist eine Marke der Vogel Communications Group GmbH & Co. KG Dieser Newsletter wurde verschickt an die E-Mail-Adresse unknown@unknown.invalid   Kontakt    Datenschutz    Impressum     Abmelden