Der steigende Zeit- und Kostendruck in der Elektronikproduktion legt den Gedanken der Parallelisierung nahe. Wer in der Lage ist, viele Platinen auf einmal zu testen und idealerweise auch zu programmieren, kann rasch die Kosten senken und die Stückzahlen erhöhen.

Die Herausforderungen dabei sind vielfältig: Wie ist mit defekten Prüflingen umzugehen? Wie können Ausfallzeiten und Defekte reduziert werden? Wie handhabt die Programmierung großer Datenmengen? Was ist besser: In-Line oder Insellösung?

Das Webinar beantwortet diese Fragen und zeigt Ihnen,

• welche Lösungen es für verschiedene Stückzahlen und Anforderungen gibt,
• wie Sie die Programmierung von Platinen beschleunigen können, und
• wie Sie dabei gleichzeitig eine optimale elektrische Testabdeckung sicherstellen.

Ihre Referenten im Webinar:
Alexander Beck – Leiter Integration im Bereich Embedded JTAG Solutions,
Martin Borowski – Vertriebsingenieur im Bereich Embedded JTAG Solutions
von GÖPEL electronic GmbH

Wir freuen uns über Ihr Interesse an diesem Webinar!
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